愛德萬測試推出最新T5835記憶體測試機

綜觀市場趨勢，隨着揮發性與非揮發性記憶體IC的介面速度持續加快，原先中等速度的DRAM核心最終測試速度也持續增加，並在可靠度、測試覆蓋率和成本效益之間達到最佳平衡。現今高速元件在進行NAND Flash記憶體測試時的介面速度可能超過2 Gbps，預料即將問世的非揮發性記憶體測試速度甚至將超過4 Gbps。對IC製造商而言，理想的測試解決方案除了要能跟上日益提高的性能要求，還要維持或改善整體測試成本。

最新T5835系統對任何運作速度高達5.4 Gbps的記憶體IC都具備完整測試功能，包含各新世代記憶體，如NAND Flash快閃記憶體、雙倍資料率DDR與低功率雙倍資料率LPDDR的DRAM晶片都能滿足測試需求。此外，T5835系統內建專門的硬體功能，使其能實現領先業界的高產能要求、降低測試成本，針對最終封裝級測試更能同時處理768個元件。

T5835系統功能包括DRAM已知良品（KGD）晶圓級測試，針對先進行動記憶體強化的可編程設計電源供應（PPS），以及即時DQS vs. DQ功能借以提升良率。

T5835的設計是基於模組強化的T5800系列平臺，能使晶圓測試與最終測試的可擴充性、彈性與效能達到最佳化。這套系統可以設置爲研發環境使用的工程機，也能配備小、中或大型測試頭，投入線上生產測試。

T5835系統設置都承襲愛德萬測試現有的記憶體測試系統，並搭載Future Suite作業系統，提供客戶具延續性的測試程式相容性。這些特點讓使用者得以從前代T5800系列無縫接軌，同時又能兼顧生產效率。

愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁鈴木雅之表示，具備高性能、多元功能的最新T5835系統，不僅是T5800系列最高等級新作，也是目前業界最優秀的記憶體測試機。T5800產品家族早已是市場認可的全球標準，最新推出的T5835測試機亦將延續一貫優異傳統。首批T5835系統預計於今年底前出貨給關鍵客戶。