沃傑科技申請一種數據信息標籤的輻射掃描專利，提高數據信息的分析精度

金融界 2024 年 10 月 28 日消息，國家知識產權局信息顯示，沃傑（北京）科技有限公司申請一項名爲“一種數據信息標籤的輻射掃描方法、系統及介質”的專利，公開號 CN 118820907 A，申請日期爲 2024 年 9 月。

專利摘要顯示，本申請實施例提供了一種數據信息標籤的輻射掃描方法、系統及介質，該方法包括：獲取數據信息標籤的掃描圖像，對掃描圖像進行分析處理，得到滿足設定條件信息的掃描圖像；提取掃描圖像的數據特徵，基於抽取模型對數據特徵進行屬性分析，得到數據屬性值；基於聚類算法對數據屬性值進行聚類，得到聚類結果，基於聚類結果生成多個類別的數據特徵；抽取每一類別的數據特徵的中心點作爲標籤，得到數據信息標籤；通過抽取模型對數據特徵進行語義抽取，從而精準的分析數據屬性，對數據屬性進行分類處理，建立數據信息標籤，提高數據信息的分析精度。

本文源自：金融界

作者：情報員